SKN-SY2020探針台測試系統配備電壓脈沖測試、光原位測試、高低溫等功能模塊。

可用于(yú)憶阻器、晶體管、傳感器、太陽能電池等器件在(zài)脈沖條件、單色光照、高 低溫、真空等環境下的(de)各種性能研究。